Fundamentals of micro and nano device testing
备注
随着集成电路的发展，电子器件进入纳米尺度。器件的缩微为测试带来新的挑战，特别是小信号测量。本课程内容主要讲授测试技术概念、电路原理、电子器件特性、高频信号传输、常用电学测试设备以及干扰屏蔽技术等。 通过课堂讲授及实验训练，使得学生系统深刻理解电路理论、器件基本特性与测试系统相关理论，能够运用相关知识对测试数据的完整性进行分析，培养学生根据实际应用场景设计搭建测试系统能力，为进一步从事集成电路器件研究工作打下基础。
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